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        YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試

        發(fā)布時(shí)間: 2016-04-15  作者:上海洪富儀器儀表有限公司 來源:上海洪富儀器儀表有限公司  點(diǎn)擊次數(shù):

        YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試

        特點(diǎn)
        此手持式儀器測(cè)量氧化膜的導(dǎo)納(Y),符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標(biāo)準(zhǔn)。 測(cè)量范圍為 3 – 200 μS,測(cè)量槽直徑為 13 mm
        通過可選的電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器
        YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試
         

        上海洪富儀器儀表有限公司

        地址:上海市嘉定區(qū)福海路777弄2號(hào)樓701室
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        聯(lián)系人:張洪群(13585869092)
        網(wǎng)址:www.frzt.cn


        典型應(yīng)用領(lǐng)域

        該儀器極適合快速簡(jiǎn)便的對(duì)鋁材上的陽(yáng)極氧化膜密閉性進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 涂層的耐氣候性取決于導(dǎo)納(Y)


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      品牌中心 Brands
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